SiC Mosfet Characterization For Series Parallel Combination in multi-pulse radiography Applications - Université de Pau et des Pays de l'Adour Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

SiC Mosfet Characterization For Series Parallel Combination in multi-pulse radiography Applications

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03666275 , version 1 (12-05-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03666275 , version 1

Citer

Eric Brune, Jean-Marie Larbaig, Laurent Pecastaing, Thierry Reess, Antoine Silvestre de Ferron, et al.. SiC Mosfet Characterization For Series Parallel Combination in multi-pulse radiography Applications. 49th International Conference on Plasma Science (ICOPS), May 2022, Seattle, Washington, United States. ⟨hal-03666275⟩
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